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Exfo FTB－5320 波長計 FTB－5320是一臺基于干涉原理 進 行光譜分析 的高精度儀 表。是密集波分復用系統以及器件的理想測試設備，同時可以用于光譜儀 的精確校準。內置參考光源： 內置參考光源He-Ne激光器保證*的波長精度，典型為±2pm。漂移模式： 可以用來分析長時間的峰值功率和波長的漂移。這對于分析器件或系統由于發熱而引起的穩定度變化尤為重要與光譜儀集成：
Exfo/Burleigh WA-7600波長計 EXFO WA－7600、WA-7100可以進行如下項目的測量1.波長的測量：光波長及譜寬的精確測量，ITU-T grid 中心波長的測量2. 功率的測量：峰值功率、積分功率的測量 3. 光信噪比測量 4. DWDM系統及器件的測試，可以同時分析測量多達256個通路的通道特性 5. 波長、功率漂移測量以及實時監控
AQ6140Ando AQ6140 多波長計AQ6140 多波長計具有*的波長測量精度和可分辨的頻率間隔，很好地滿足了市場需求及測量需要。它可以應用于多種測量場合，包括DWDM系統開發以及光器件的生產產品特點：. 高波長測量精度:波長精度高達±0.003 nm（在1310nm和1550 nm波長處）。AQ6140 YOKOGAWA Ando 多波長計
86122A 安捷倫 Agilent 光波長計適用于高效研發、生產和驗證在當前和未來高速應用中使用的可調諧激光器發射機和光子系統。新型 86122B 多波長計是經過驗證的 86122A 的更新版本。 它經過重新設計，可提供持續的支持和可制造性，同時還經過更新，以適應當前的計算環境。 在每周 7 天、每天 24 小時進行的測試中，必須謹慎操作，盡量縮短成本高昂的停機時間。
Exfo PM-1100 功率計 PM-1100臺式光功率計和PM-1600高速功率計均能夠在大動態范圍內進行準確的功率測量，具有*的分辨率和的線性度。可選擇它們來進行離散值（如插入損耗）自動測量，或進行連續監測和數據取樣。這些獨立功率計具有出色的性能、靈活性、用戶友好性以及可擴展集成功能。PM-1100/PM-1600測試非連接器連接元件時，將BFA-3000通用裸光纖適配器與PM-1600W高
安捷倫 Agilent HP 8169A 光波偏振控制器 祥細資料：描述(1) 輸入可通過數字鍵、方向鍵、調節旋鈕輸入數據，選中需要編輯的參數（高亮顯示），輸入一個新的值（數字、上下、旋鈕），Enter。輸入錯誤時，通過左右方向鍵調整到相應位置重新輸入參數，如取消，按Cancel。如果輸入的新值按Enter后變回原值，說明輸入的值超出設備允許范圍。
8504B 安捷倫 Agilent 8504B 反射計 504B惠普/安捷倫8504b功能. Return loss measurement range beyond 80 dB回波損耗的測量范圍超出了80分貝. 25 μm two-event resolution (in air, 16 μm in glass) 25 μ m的兩個事件的決議（在空氣中， 16 μ m的玻璃）. 1300 and
86120B 安捷倫 Agilent 是德 波長計的波長精度可幫助您精確測量精密WDM系統中的通道，以監測通道的波長變化以及相鄰通道之間的串擾。 無需額外的連接和儀器（如衰減器）即可測試發射機。內置應用支持智能獨立測試，可以減少測試儀表空間需求以及昂貴的測試程序開發成本。 內置HeNe可確保根據標準，實時精確測量絕對波長，并保證精確且可再現的試驗結果。
